電子元器件的失效率試驗

電子元器件的失效率試驗 通常電子元器件的可靠性水平的髙低用失效率表示，所以我們先介紹電子元器件的失效率試驗。 電子元器件失效率是考核其壽命或可靠性水平的一種定量的指標。電子元器件的可靠性試驗就是電子元器件的失效率試驗。為確定產(chǎn)品的失效率而進

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可靠性試驗方法

可靠性試驗方法 可靠性試驗應按照試驗對象、產(chǎn)品用途和試驗目的等，選擇適當?shù)脑囼灧椒?、試驗條件和確定合理的評價標準。 做可靠性試驗首先應明確失效模式分析的項目，然后按器件的結構、工藝和使用條件等,選擇環(huán)境因子，即選擇應力因子。應力分單一應力和組

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失效判據(jù)舉例

失效判據(jù)舉例 本節(jié)介紹確定晶體管、數(shù)字集成電路和線性集成電路等半導體器件失效判據(jù)的實際例子。其他系列半導體器件的失效判據(jù)基本上可用同樣的方法來規(guī)定。 (1)晶體管的失效判據(jù) 表2.1.1列出了晶體管典型特性參數(shù)的失效判據(jù)。由于晶體管的種類和用途的不同,

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失效判據(jù)的確定

失效判據(jù)的確定 合格的半導體器件以器件的電特性和其他性能等在可靠性試驗中不發(fā)生變化為最理想。但實際上通過可靠性試驗后，器件的各種特性參數(shù)中有些會改變。從提髙可靠性的觀點出發(fā)在失效模式、失效機理保持不變的前提下，可以使器件在加嚴的條件下進行試

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電子元器件的可靠性試驗概述

電子元器件的可靠性試驗概述 為了深入了解13大類、37小類電子元器件的可靠性試驗,我們這里先以半導體器件為代表，初步了解一下可靠性試驗的全貌。半導體器件的可靠性試驗，可根據(jù)試驗目的而靈活運用各種方法。通過各種可靠性試驗進行可靠性評價時，應考慮到重

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