電子元器件的失效率試驗(yàn)

電子元器件的失效率試驗(yàn) 通常電子元器件的可靠性水平的髙低用失效率表示，所以我們先介紹電子元器件的失效率試驗(yàn)。 電子元器件失效率是考核其壽命或可靠性水平的一種定量的指標(biāo)。電子元器件的可靠性試驗(yàn)就是電子元器件的失效率試驗(yàn)。為確定產(chǎn)品的失效率而進(jìn)

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可靠性試驗(yàn)方法

可靠性試驗(yàn)方法 可靠性試驗(yàn)應(yīng)按照試驗(yàn)對象、產(chǎn)品用途和試驗(yàn)?zāi)康牡?，選擇適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)方法、試驗(yàn)條件和確定合理的評價標(biāo)準(zhǔn)。 做可靠性試驗(yàn)首先應(yīng)明確失效模式分析的項目，然后按器件的結(jié)構(gòu)、工藝和使用條件等,選擇環(huán)境因子，即選擇應(yīng)力因子。應(yīng)力分單一應(yīng)力和組

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失效判據(jù)舉例

失效判據(jù)舉例 本節(jié)介紹確定晶體管、數(shù)字集成電路和線性集成電路等半導(dǎo)體器件失效判據(jù)的實(shí)際例子。其他系列半導(dǎo)體器件的失效判據(jù)基本上可用同樣的方法來規(guī)定。 (1)晶體管的失效判據(jù) 表2.1.1列出了晶體管典型特性參數(shù)的失效判據(jù)。由于晶體管的種類和用途的不同,

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失效判據(jù)的確定

失效判據(jù)的確定 合格的半導(dǎo)體器件以器件的電特性和其他性能等在可靠性試驗(yàn)中不發(fā)生變化為最理想。但實(shí)際上通過可靠性試驗(yàn)后，器件的各種特性參數(shù)中有些會改變。從提髙可靠性的觀點(diǎn)出發(fā)在失效模式、失效機(jī)理保持不變的前提下，可以使器件在加嚴(yán)的條件下進(jìn)行試

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電子元器件的可靠性試驗(yàn)概述

電子元器件的可靠性試驗(yàn)概述 為了深入了解13大類、37小類電子元器件的可靠性試驗(yàn),我們這里先以半導(dǎo)體器件為代表，初步了解一下可靠性試驗(yàn)的全貌。半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)，可根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康亩`活運(yùn)用各種方法。通過各種可靠性試驗(yàn)進(jìn)行可靠性評價時，應(yīng)考慮到重

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