電子元器件的失效率試驗(yàn)
通常電子元器件的可靠性水平的髙低用失效率表示，所以我們先介紹電子元器件的 失效率試驗(yàn)。
電子元器件失效率是考核其壽命或可靠性水平的一種定量的指標(biāo)。電子元器件的可 靠性試驗(yàn)就是電子元器件的失效率試驗(yàn)。為確定產(chǎn)品的失效率而進(jìn)行的壽命試驗(yàn)稱為失 效率試驗(yàn)，這種試驗(yàn)主要用于其壽命能合理地認(rèn)為是服從指數(shù)分布,在本質(zhì)上是同一設(shè) 計(jì)，建立了可靠性與質(zhì)量管理的批量產(chǎn)品和連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品。就是說(shuō),用這種方法對(duì)產(chǎn)品 的失效率進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，生產(chǎn)管理應(yīng)該是嚴(yán)格的，生產(chǎn)過(guò)程比較穩(wěn)定，生產(chǎn)批次之間變化較 小。這樣，在累計(jì)數(shù)據(jù)的前提下，可以逐步保證產(chǎn)品有較高的可靠度等級(jí)。