失效判據的確定
合格的半導體器件以器件的電特性和其他性能等在可靠性試驗中不發(fā)生變化為理 想。但實際上通過可靠性試驗后，器件的各種特性參數中有些會改變。從提髙可靠性的 觀點出發(fā) > 在失效模式、失效機理保持不變的前提下，可以使器件在加嚴的條件下進行試 驗,也就是在使試驗條件部分地超過額定值的條件下進行試驗，這就是加速壽命試 驗。這時，必須充分認識到超過額定條件這一情況，并考慮其加速性。規(guī)定失效判 據，可以通過下述兩個途徑進行：
①對半導體器件進行可靠性分析。
②根據設備的電路安全系數等因素和使用條件來決定。
顯然，①是以半導體器件的失效模式、失效機理等失效物理概念來決定失效判據的方 法;②是根據設備規(guī)定的特性來決定失效判據的方法。在實際的可靠性活動中，應在充分 考慮上述兩種方法后，再確定失效判據。