電子元器件失效率試驗(yàn)的種類(lèi)和方法
電子元器件失效率試驗(yàn)的種類(lèi)和方法 1.失效率試驗(yàn)的種類(lèi) 通常失效率試驗(yàn)分為定級(jí)試驗(yàn)、維持試驗(yàn)和升級(jí)試驗(yàn)3種。 定級(jí)試驗(yàn) 為首次確定產(chǎn)品的失效率等級(jí)而做的試驗(yàn),或在某一失效率等級(jí)的維持和升級(jí)試驗(yàn)失敗后,對(duì)產(chǎn)品重新確定其失效率等級(jí)而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為定級(jí)
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