電子元器件的可靠性試驗(yàn)概述
為了深入了解13大類、37小類電子元器件的可靠性試驗(yàn),我們這里先以半導(dǎo)體器件 為代表，初步了解一下可靠性試驗(yàn)的全貌。半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)，可根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康亩?nbsp;靈活運(yùn)用各種方法。通過各種可靠性試驗(yàn)進(jìn)行可靠性評價時，應(yīng)考慮到重復(fù)性，而且必須 充分考慮到實(shí)際使用情況。為此,應(yīng)按照所評價的半導(dǎo)體器件的用途、工作環(huán)境、使用條 件等來決定試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件、抽樣數(shù)、規(guī)定的特性參數(shù)和失效判據(jù)等。本節(jié)介紹半導(dǎo) 體器件的可靠性評價試驗(yàn)計劃，并列舉大量的具體例子來說明這種評價試驗(yàn)所包括的主 要項(xiàng)目，E卩失效判據(jù)、可靠性試驗(yàn)方法概要及有關(guān)規(guī)范、加速壽命試驗(yàn)的理論和方法、抽檢 順序等。通過這類電子元器件的可靠性試驗(yàn)了解各類電子元器件的可靠性試驗(yàn)概況。
失效判據(jù)
半導(dǎo)體可靠性試驗(yàn)就是考核半導(dǎo)體會不會失效的試驗(yàn)。失效包括屬于嚴(yán)重缺陷的致 命失效(斷線、短路)和功能退化等，以及因漏電流和工作電源安全系數(shù)變化等引起的系統(tǒng) 特性不同程度的退化。進(jìn)行可靠性試驗(yàn)時,首先應(yīng)規(guī)定失效的定義(定出失效判據(jù))。失 效判據(jù)不同，會得出不同的可靠性評價結(jié)果。所以，應(yīng)特別注意規(guī)定失效判據(jù)。
我們本節(jié)首先說明對失效定義(失效判據(jù))的基本考慮,其次，舉出3個系列產(chǎn)品（晶 體管、數(shù)字集成電路和線性集成電路)的失效率評價例子，同時歸納出各系列與可靠性有 關(guān)的重要特性。此外，在充分考慮產(chǎn)品的特性及使用條件的前提下，規(guī)定出各種產(chǎn)品的失 效判據(jù)。