利用威布爾概率紙估計(jì)可靠性數(shù)置特征的方法

利用威布爾概率紙估計(jì)可靠性數(shù)置特征的方法 作為估計(jì)可靠性數(shù)量特征的圖估法是利用威布爾概率紙對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行初步整理并估計(jì)可靠性數(shù)董特征的方法。這是目前較常用的一種處理方法。為了淸楚地看出試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分布情況，往往可以將原始數(shù)據(jù)在威布爾概率紙或?qū)?/p>

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失效標(biāo)準(zhǔn)與失效統(tǒng)計(jì)

失效標(biāo)準(zhǔn)與失效統(tǒng)計(jì) 失效標(biāo)準(zhǔn)是指判斷產(chǎn)品失效的技術(shù)指標(biāo)。一個(gè)產(chǎn)品往往有好幾項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)，在可靠性壽命試驗(yàn)中，通常規(guī)定只要其中有一項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)超出技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍就判斷為失效。在統(tǒng)計(jì)失效時(shí),要按失效形式分別進(jìn)行統(tǒng)計(jì),找出產(chǎn)品的主要失效形式。從而采

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試驗(yàn)需要注意的幾個(gè)問(wèn)題

試驗(yàn)需要注意的幾個(gè)問(wèn)題 樣品的選取 試驗(yàn)樣品必須在篩選試驗(yàn)和例行試驗(yàn)合格的批產(chǎn)品中隨機(jī)地抽

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長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)

長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn) 我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下進(jìn)行的壽命試驗(yàn)稱為工作壽命試驗(yàn)。工作壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)。長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)又分連續(xù)工作壽命試驗(yàn)和間斷工作壽命試驗(yàn)兩種。 連續(xù)工作壽命試驗(yàn) 這是傳統(tǒng)的壽命試驗(yàn)方

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長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)

長(zhǎng)期壽命試驗(yàn) 1.長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) 我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的環(huán)境條件下非工作狀態(tài)的存放試驗(yàn)稱為儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。如半導(dǎo)體三極管總技術(shù)條件中規(guī)定，每種型號(hào)的半導(dǎo)體三極管，每年應(yīng)取一定數(shù)量的管子,存放

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