長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)

長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn) 我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的工作及環(huán)境條件下進(jìn)行的壽命試驗(yàn)稱為工作壽命試驗(yàn)。工作壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)。長(zhǎng)期工作壽命試驗(yàn)又分連續(xù)工作壽命試驗(yàn)和間斷工作壽命試驗(yàn)兩種。 連續(xù)工作壽命試驗(yàn) 這是傳統(tǒng)的壽命試驗(yàn)方

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長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)

長(zhǎng)期壽命試驗(yàn) 1.長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) 我們把電子產(chǎn)品在規(guī)定的環(huán)境條件下非工作狀態(tài)的存放試驗(yàn)稱為儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)周期在1000小時(shí)以上者稱為長(zhǎng)期儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)。如半導(dǎo)體三極管總技術(shù)條件中規(guī)定，每種型號(hào)的半導(dǎo)體三極管，每年應(yīng)取一定數(shù)量的管子,存放

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電子元器件的壽命試驗(yàn)

電子元器件的壽命試驗(yàn) 壽命試驗(yàn)是評(píng)價(jià)、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)，它是在實(shí)驗(yàn)室條件下，摸擬實(shí)際工作狀態(tài)或儲(chǔ)存狀態(tài)，投人一定樣品進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)中記錄樣品失效的時(shí)間，并對(duì)這些失效時(shí)間進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析，以評(píng)估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均

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升級(jí)試驗(yàn)程序

升級(jí)試驗(yàn)程序 定級(jí)試驗(yàn)合格的產(chǎn)品可繼續(xù)進(jìn)行升級(jí)試驗(yàn)。升級(jí)試驗(yàn)的數(shù)據(jù)可從定級(jí)試驗(yàn)和維持試驗(yàn)的樣品進(jìn)行延長(zhǎng)試驗(yàn)，以及為升級(jí)試驗(yàn)投人的樣品進(jìn)行的試驗(yàn)中得出。升級(jí)試驗(yàn)按下列程序進(jìn)行： ①確定待升的失效率等級(jí)(一般比原定的等級(jí)髙一級(jí)),置信度(一般為60%,必

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維持試驗(yàn)程序

維持試驗(yàn)程序 定級(jí)試驗(yàn)合格的產(chǎn)品，應(yīng)按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的維持周期進(jìn)行該等級(jí)的維持試驗(yàn)。維持周期分I、II組(表2.2.4)。維持試驗(yàn)按下列程序進(jìn)行： ①確定允許失效數(shù)c。 ②根據(jù)產(chǎn)品已試驗(yàn)合格的失效率等級(jí)及允許失效數(shù)由表2. 2.4查出所需要的總試驗(yàn)元件小時(shí)數(shù)

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