利用威布爾概率紙估計可靠性數(shù)置特征的方法
作為估計可靠性數(shù)量特征的圖估法是利用威布爾概率紙對原始數(shù)據(jù)進行初步整理并估 計可靠性數(shù)董特征的方法。這是目前較常用的一種處理方法。為了淸楚地看出試驗數(shù)據(jù)的 分布情況，往往可以將原始數(shù)據(jù)在威布爾概率紙或?qū)?shù)正態(tài)概率紙等坐標紙上進行描點。
通過描點，就可以大體看出其試驗數(shù)據(jù)是近似于何種分布的。如果所描各點在某概 率紙上接近于一條直線，就可以認為它趨于這種分布，并且還可以通過圖估法估計其分布 的壽命特征。
威布爾概率紙是一種用途較廣泛的概率紙，人們經(jīng)常采用它的理由是;在威布爾率紙 上描點，在r = 0的情況下，人們可以根據(jù)其形狀參數(shù)m的情況大體預計其分布情況。當 m = 1時，可以認為它接近于指數(shù)分布;當m = 2時,可以認為它是接近于瑞利分布的;當 ^>3.5時，可以把它當做正態(tài)分布處理;當m < 1時，可以認為它接近于伽瑪分布。所 以對于半導體器件等電子元器件的各個不同階段的失效規(guī)律，幾乎均可用威布爾分布來 描述，本節(jié)就討論威布爾分布的統(tǒng)計分析方法。