電子元器件的壽命試驗

電子元器件的壽命試驗 壽命試驗是評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗，它是在實驗室條件下，摸擬實際工作狀態(tài)或儲存狀態(tài)，投人一定樣品進行試驗，試驗中記錄樣品失效的時間，并對這些失效時間進行統(tǒng)計、分析，以評估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均

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升級試驗程序

升級試驗程序 定級試驗合格的產(chǎn)品可繼續(xù)進行升級試驗。升級試驗的數(shù)據(jù)可從定級試驗和維持試驗的樣品進行延長試驗，以及為升級試驗投人的樣品進行的試驗中得出。升級試驗按下列程序進行： ①確定待升的失效率等級(一般比原定的等級髙一級),置信度(一般為60%,必

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維持試驗程序

維持試驗程序 定級試驗合格的產(chǎn)品，應按產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范規(guī)定的維持周期進行該等級的維持試驗。維持周期分I、II組(表2.2.4)。維持試驗按下列程序進行： ①確定允許失效數(shù)c。 ②根據(jù)產(chǎn)品已試驗合格的失效率等級及允許失效數(shù)由表2. 2.4查出所需要的總試驗元件小時數(shù)

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常用的失效率試驗的程序如下

常用的失效率試驗的程序如下。 定級試驗程序 ①確定失效率等級、置信度(一般取60%,必要時也可取90%)和允許失效數(shù)c,置信度和允許失效數(shù)選定后,在試驗過程中不得更換。 ②根據(jù)失效率等級,置信度和允許失效數(shù)，由表2. 2.2和表2.2.3查出所需的總試驗元件小時數(shù)了

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大理-IP5.6淋雨試驗箱

大理-IP5.6淋雨試驗箱 大理-IP5.6淋雨試驗箱- ◎、將樣品按正常工牛時的結(jié)構(gòu)狀態(tài)放入試驗箱經(jīng)受垂直落下的水滴，或者為了模擬各種使用情況，使產(chǎn)品相對于垂直平面傾斜規(guī)定的角度經(jīng)受水滴。如果樣品所需經(jīng)受滴水試驗的面很多，為了使所有需要經(jīng)受滴水試驗的面

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