電子元器件失效率試驗的種類和方法
1.失效率試驗的種類
通常失效率試驗分為定級試驗、維持試驗和升級試驗3種。
定級試驗
為首次確定產(chǎn)品的失效率等級而做的試驗，或在某一失效率等級的維持和升級試驗 失敗后，對產(chǎn)品重新確定其失效率等級而進(jìn)行的試驗稱為定級實驗。
維持試驗
為證明產(chǎn)品的失效率等級仍不低于定級或升級試驗后所確定的失效率等級而進(jìn)行的
試驗稱為維持試驗。
升級試驗
為證明產(chǎn)品的失效率等級比原定的失效率等級更高而進(jìn)行的試驗稱為升級試驗。
失效率試驗的方法
對電子元器件失效率所進(jìn)行的可靠性試驗,根據(jù)不同的試驗?zāi)康目梢苑譃閮煞N方法：
可靠性驗證試驗
如果主要目的是為了確定是否符合某規(guī)定的失效率時，應(yīng)采用此方法。此時，生產(chǎn)廠 的義務(wù)是在所要求的置信度下驗證產(chǎn)品是否符合所要求的失效率等級。由于生產(chǎn)廠同意 提供某規(guī)定的失效率等級，所以，試驗的等級是按產(chǎn)品被鑒定的失效率來確定的。
可靠性測定試驗
如果主要目的是為了對產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評價時,應(yīng)采用此方法。此時，生產(chǎn)廠的義 務(wù)是按照規(guī)定進(jìn)行試驗，并就試驗結(jié)果提出報告。試驗所確定的失效率與同類試驗結(jié)果 相比較。試驗等級與所報告的失效率無關(guān)。
這兩種方法既適用于本質(zhì)上是連續(xù)生產(chǎn)的元器件失效率試驗,也適用于單批產(chǎn)品的 失效率試驗。