電子元器件失效率試驗(yàn)的種類和方法
1.失效率試驗(yàn)的種類
通常失效率試驗(yàn)分為定級(jí)試驗(yàn)、維持試驗(yàn)和升級(jí)試驗(yàn)3種。
定級(jí)試驗(yàn)
為首次確定產(chǎn)品的失效率等級(jí)而做的試驗(yàn)，或在某一失效率等級(jí)的維持和升級(jí)試驗(yàn) 失敗后，對(duì)產(chǎn)品重新確定其失效率等級(jí)而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為定級(jí)實(shí)驗(yàn)。
維持試驗(yàn)
為證明產(chǎn)品的失效率等級(jí)仍不低于定級(jí)或升級(jí)試驗(yàn)后所確定的失效率等級(jí)而進(jìn)行的
試驗(yàn)稱為維持試驗(yàn)。
升級(jí)試驗(yàn)
為證明產(chǎn)品的失效率等級(jí)比原定的失效率等級(jí)更高而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為升級(jí)試驗(yàn)。
失效率試驗(yàn)的方法
對(duì)電子元器件失效率所進(jìn)行的可靠性試驗(yàn),根據(jù)不同的試驗(yàn)?zāi)康目梢苑譃閮煞N方法：
可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)
如果主要目的是為了確定是否符合某規(guī)定的失效率時(shí)，應(yīng)采用此方法。此時(shí)，生產(chǎn)廠 的義務(wù)是在所要求的置信度下驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合所要求的失效率等級(jí)。由于生產(chǎn)廠同意 提供某規(guī)定的失效率等級(jí)，所以，試驗(yàn)的等級(jí)是按產(chǎn)品被鑒定的失效率來確定的。
可靠性測定試驗(yàn)
如果主要目的是為了對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評(píng)價(jià)時(shí),應(yīng)采用此方法。此時(shí)，生產(chǎn)廠的義 務(wù)是按照規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)，并就試驗(yàn)結(jié)果提出報(bào)告。試驗(yàn)所確定的失效率與同類試驗(yàn)結(jié)果 相比較。試驗(yàn)等級(jí)與所報(bào)告的失效率無關(guān)。
這兩種方法既適用于本質(zhì)上是連續(xù)生產(chǎn)的元器件失效率試驗(yàn),也適用于單批產(chǎn)品的 失效率試驗(yàn)。