可靠性試驗(yàn)的分類
可靠性試驗(yàn)的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關(guān)的試驗(yàn)都可以稱為可 靠性試驗(yàn)。它的分類方法很多。通用的可靠性試驗(yàn)，可按不同的分類方法進(jìn)行分類(請參 閱1.5節(jié))。
我們這里要介紹電子元器件的可靠性試驗(yàn)。但我們知道:電子元器件有13大類、37 小類，要詳細(xì)地介紹它們的可靠性試驗(yàn)沒有必要。我們只要淸楚地知道電子元器件的主 要的可靠性試驗(yàn)，熟悉了解某些有代表性的電子元器件的全部可靠性試驗(yàn)，就會淸楚任一 種電子元器件的可靠性試驗(yàn)。所以,這里我們把電子元器件的可靠性試驗(yàn)按半導(dǎo)體器件 的可靠性試驗(yàn)方法、電子元器件的失效率試驗(yàn)、電子元器件的壽命試驗(yàn)、電子元器件的可靠性增長試驗(yàn)、電子元器件的可靠性篩選試驗(yàn)、電子元器件的例行試驗(yàn)和電子元器件的認(rèn) 定及認(rèn)證試驗(yàn)、電子元器件的現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)等8部分進(jìn)行介紹。其中半導(dǎo)體器件的可 靠性試驗(yàn)是選出半導(dǎo)體器件為代表，先粗略地介紹一下電子元器件的可靠性試驗(yàn)的概況， 其余各個(gè)試驗(yàn)均為電子元器件的主要的可靠性試驗(yàn)。