可靠性試驗的分類
可靠性試驗的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關(guān)的試驗都可以稱為可 靠性試驗。它的分類方法很多。通用的可靠性試驗，可按不同的分類方法進行分類(請參 閱1.5節(jié))。
我們這里要介紹電子元器件的可靠性試驗。但我們知道:電子元器件有13大類、37 小類，要詳細地介紹它們的可靠性試驗沒有必要。我們只要淸楚地知道電子元器件的主 要的可靠性試驗，熟悉了解某些有代表性的電子元器件的全部可靠性試驗，就會淸楚任一 種電子元器件的可靠性試驗。所以,這里我們把電子元器件的可靠性試驗按半導(dǎo)體器件 的可靠性試驗方法、電子元器件的失效率試驗、電子元器件的壽命試驗、電子元器件的可靠性增長試驗、電子元器件的可靠性篩選試驗、電子元器件的例行試驗和電子元器件的認 定及認證試驗、電子元器件的現(xiàn)場可靠性試驗等8部分進行介紹。其中半導(dǎo)體器件的可 靠性試驗是選出半導(dǎo)體器件為代表，先粗略地介紹一下電子元器件的可靠性試驗的概況， 其余各個試驗均為電子元器件的主要的可靠性試驗。