可靠性試驗(yàn)
可靠性試驗(yàn)應(yīng)按照試驗(yàn)對(duì)象、產(chǎn)品用途和試驗(yàn)?zāi)康牡?，選擇適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)方法、試驗(yàn)條 件和確定合理的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。
做可靠性試驗(yàn)首先應(yīng)明確失效模式分析的項(xiàng)目，然后按器件的結(jié)構(gòu)、工藝和使用條件 等，選擇環(huán)境因子，即選擇應(yīng)力因子。應(yīng)力分單一應(yīng)力和組合應(yīng)力兩種。進(jìn)一步還應(yīng)研究 應(yīng)力強(qiáng)度和加上時(shí)間應(yīng)力的方法。此外，對(duì)篩選或取樣抽檢方式也應(yīng)加以研究。如果采 用抽檢，還應(yīng)研究抽檢的頻度等。應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)的是,破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)有很大差 別。
通過(guò)可靠性試驗(yàn)?zāi)軠?zhǔn)確地預(yù)測(cè)失效和提高元器件的可靠性。為此,必須研究可靠性 試驗(yàn)數(shù)據(jù)的累計(jì)方法，以及研究通過(guò)失效分析和一系列反饋方法來(lái)提高可靠性的措施。
可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
為了取得試驗(yàn)的重復(fù)性，試驗(yàn)方法必須標(biāo)準(zhǔn)化。
國(guó)外可靠性試驗(yàn)常用的標(biāo)準(zhǔn)有：日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS、日本電子機(jī)械工業(yè)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)EIAJ、 IEC標(biāo)準(zhǔn)、英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)BS、美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)(MIL)、德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN、歐洲標(biāo)準(zhǔn)CENELEC。 除上述標(biāo)準(zhǔn)外，還有日本國(guó)內(nèi)有關(guān)部門(mén)及企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn),例如：日電公司標(biāo)準(zhǔn),宇宙開(kāi)發(fā)事業(yè) 團(tuán)標(biāo)準(zhǔn)，日本廣播公司標(biāo)準(zhǔn)，防衛(wèi)廳標(biāo)準(zhǔn),國(guó)鐵標(biāo)準(zhǔn),汽車(chē)工業(yè)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)等。