可靠性試驗的目的和意義
雖然可靠性試驗均是與可靠性有關(guān)的試驗,但電子元器件生命周期內(nèi)進行的可靠性 試驗有不同的目的。
在研制階段為了使電子元器件達到預定的可靠性指標,就需要對樣品進行可靠性試 驗，以達到暴露電子元器件在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝和環(huán)埦適應(yīng)性等方面存在的問題。經(jīng)過 反復試驗與改進之后,電子元器件各項可靠性指標就能不斷提髙,達到預定的要求,這就 是可靠性增長試驗。
在電子元器件研制定型時要按照技術(shù)條件進行鑒定試驗,以考核電子元器件是 否達到規(guī)定的可靠性指標。
對于穩(wěn)定生產(chǎn)的電子元器件也需要逐批進行可靠性抽樣試驗。通過對每一批電子元器件的柚樣試驗可以了解丄藝線生產(chǎn)的穩(wěn)定程度。通常的例行試驗就是為了達到這一目 的而進行的可靠性試驗工藝篩選是提高整批電子元器件可靠性水平的有效措施。但是，正確而合理的篩選 條件必須通過對電子元器件進行充分的可靠性摸底試驗，并結(jié)合使用條件和可靠性等級 要求才能確定。
另一方面，通過各種模擬試驗和使用試驗，了解電子元器件在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下 的失效規(guī)律與失效模式，分析引起電子元器件失效的原因，找出其薄弱環(huán)節(jié)，采取相應(yīng)的 措施，就能提高電子元器件的可靠性水平。
綜上所述，電子元器件的可靠性試驗是評價電子元器件可靠性水平的一個重要手段， 是電子元器件可靠性研究的一個基本環(huán)節(jié)。