電子元器件的可靠性試驗(yàn)
電子元器件的可靠性試驗(yàn)
隨著國民經(jīng)濟(jì)的迅速發(fā)展和新技術(shù)革命的掀起,電子產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、國 防、科研等各個領(lǐng)域,而且電子設(shè)備的復(fù)雜程度愈來愈高,使用的環(huán)境條件愈來愈惡劣,對 電子設(shè)備的可靠性要求愈來愈高。然而,電子元器件的可靠性是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ), 要提高電子設(shè)備的可靠性除了加強(qiáng)可靠性設(shè)計(jì)外,首先必須提高電子元器件的可靠性。 要提高電子元器件的可靠性除了加強(qiáng)電子元器件的可靠性設(shè)計(jì)和加強(qiáng)生產(chǎn)過程的可靠性 管理外,開展電子元器件的可靠性試驗(yàn)(失效率試驗(yàn))是一項(xiàng)很重要的基礎(chǔ)工作。通過開 展元器件的可靠性試驗(yàn),可以明確地了解元器件存在的質(zhì)量與可靠性問題,對癥下藥,加 以解決;同時通過電子元器件的可靠性試驗(yàn)可以得到元器件的失效率U)數(shù)據(jù),從而通過 這些數(shù)據(jù)評價元器件的可靠性水平。元器件失效率數(shù)據(jù)是電子設(shè)備可靠性設(shè)計(jì)的基礎(chǔ), 是對電子設(shè)備可靠性進(jìn)行定量分析的基礎(chǔ)。過去由于一個小小的元器件失效,導(dǎo)致設(shè)備 失效,使得導(dǎo)彈試驗(yàn)空中爆炸,人造衛(wèi)星進(jìn)人發(fā)射場又拉回來的例子屢見不鮮。這些事件 不僅給當(dāng)事國造成很大的經(jīng)濟(jì)損失,而在政治上也造成惡劣影響。可見,電子元器件的 可靠性是非常重要的。而電子元器件的可靠性試驗(yàn)是保證和提高電子元器件可靠性水平 的重要手段,在電子產(chǎn)品可靠性工程中占據(jù)很重要的地位。
為評價、分析電子元器件的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為電子元器件的可靠性試驗(yàn),其目 的是考核電子元器件在運(yùn)輸、使用等情況下的可靠性。因此試驗(yàn)條件必須是模擬電子元 器件在運(yùn)輸、使用時的客觀條件,這就要求試驗(yàn)時對受試樣品施加一定的應(yīng)力,諸如電氣 應(yīng)力、氣候應(yīng)力和機(jī)械應(yīng)力等。這些應(yīng)力可以單獨(dú)作用,也可以幾種應(yīng)力綜合作用。試驗(yàn) 目的是要看在這些應(yīng)力的作用下,電子元器件反應(yīng)出的性能是否穩(wěn)定,其結(jié)構(gòu)狀態(tài)是否完 整或是否有所變形,從而判別其產(chǎn)品是否失效。