電子元器件可靠性試驗的分類及內(nèi)涵

電子元器件可靠性試驗的分類及內(nèi)涵 可靠性試驗的分類 從不同的角度看，可靠性試驗有多種分類方法。 依據(jù)試驗?zāi)康牡牟煌?，可靠性試驗可以分為以提卨產(chǎn)品固有可靠性為目的的工程可靠性試驗和以評價產(chǎn)品可靠性水平為目的的統(tǒng)計可靠性試驗u前者包括研制過程的可靠

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可靠性試驗的原理

可靠性試驗的原理 若采用實驗室內(nèi)的模擬可靠性試驗的方法來評價產(chǎn)品實際的可靠性水平,獲得設(shè)備的平均無故障工作時間(MTBF)或元器件的失效率(A)的驗證值，其基本原理源于可靠性定義?？煽啃远x中有規(guī)定條件、規(guī)定時間和規(guī)定功能這3個規(guī)定,在具體規(guī)劃可靠性試

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電子元器件可靠性試驗的定義與原理

電子元器件可靠性試驗的定義與原理 可靠性試驗的定義 電子元器件的可靠性指標(biāo)通常用失效率(A)來表示。而對電子設(shè)備而言,除特種設(shè)備外,一般是可以修復(fù)的，其可靠性指標(biāo)往往用平均無故障工作時間(MTBF)來表示。電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)不同于產(chǎn)品的電氣性能指標(biāo)，

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離心加速度

離心加速度 這是運栽工具加速或改變方向時產(chǎn)生的，所受的應(yīng)力與慣性力成正比。一般，殲擊機的離心加速度為3?6☆最大不超過12，導(dǎo)彈的離心加速度為45g。離心加速度產(chǎn)生的后果與沖擊產(chǎn)生的情況相同。 聲振 聲振主要是由發(fā)動機、飛行器與空氣邊界紊流及沖擊波等

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影響電子元器件可靠性的因素

影響電子元器件可靠性的因素 一臺電子設(shè)備的可靠性在相當(dāng)大的程度上取決于組成它的電子元器件的可靠性。據(jù)美國海軍電子實驗室的統(tǒng)計，整機出故障由于設(shè)計引起的占40%，元器件質(zhì)量不好引起的占30%，操作維護原因引起的占20%，制造工藝問題引起的占10%。日本電

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