電子元器件可靠性試驗(yàn)的分類及內(nèi)涵
可靠性試驗(yàn)的分類
從不同的角度看，可靠性試驗(yàn)有多種分類方法。
依據(jù)試驗(yàn)?zāi)康牡牟煌?，可靠性試?yàn)可以分為以提卨產(chǎn)品固有可靠性為目的的工程可 靠性試驗(yàn)和以評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性水平為目的的統(tǒng)計(jì)可靠性試驗(yàn)u前者包括研制過程的可靠 性增長試驗(yàn)、為提高產(chǎn)品固有可靠性而進(jìn)行的失效分析試驗(yàn)和篩選試驗(yàn)等。后者包括可 靠性鑒定試驗(yàn)、可靠性定級(jí)和升級(jí)試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)、可靠性維持試驗(yàn)、例行試驗(yàn)、認(rèn) 定試驗(yàn)、認(rèn)證試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)等。
從試驗(yàn)方式和場所的角度來看，可靠性試驗(yàn)可分為模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn)。模擬現(xiàn)場 環(huán)境或工作條件對元器件施加應(yīng)力的試驗(yàn)稱模擬試驗(yàn)。它包括單應(yīng)力試驗(yàn)和復(fù)合應(yīng)力試 驗(yàn)。在工作現(xiàn)場進(jìn)行的試驗(yàn)稱現(xiàn)場試驗(yàn)。它包括現(xiàn)場存儲(chǔ)試驗(yàn)和現(xiàn)場使用試驗(yàn)。
從試驗(yàn)施加應(yīng)力大小的角度來看，可靠性試驗(yàn)可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。 使良品樣品產(chǎn)生結(jié)構(gòu)缺陷的試驗(yàn)稱破壞性試驗(yàn)。若某一試驗(yàn)連續(xù)進(jìn)行5次，被試樣品的 性能沒有因試驗(yàn)而發(fā)生變化，一般稱為非破壞性試驗(yàn)。
依據(jù)施加應(yīng)力的類別，可靠性試驗(yàn)又可分為環(huán)境試驗(yàn)(含氣候環(huán)境試驗(yàn)和輻照環(huán)境試 驗(yàn)）、機(jī)械試驗(yàn)和電磁試驗(yàn)。