第八部分光學和儀器環(huán)境試驗高壓低壓侵沒
1范圍
本部分規(guī)定了高壓、低壓、浸沒試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。
本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。
本試驗目的為研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等特性受到環(huán)境氣體高壓、低壓或水浸沒影響的變化程皮。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本部分。
GB/T]2085.1光學和l光學儀器環(huán)境試驗方法第1部分:術(shù)語、試驗范圍CGB/T 12085.}-
2010.1SO 9022-1:1994,MOD)
3試驗條件
光學儀器的耐壓民驗采用下述三種方法。
條件試驗方法80:內(nèi)高壓;
條件試驗方法81:內(nèi)低壓;
條件試驗方法82:浸泣。
條件試驗方法80的環(huán)境條件為清惰的干燥空氣或氮氣‘相對搜度小子30%。
條件試驗方法82用于在使用期間時能遭到浸潑的儀器.浸投試驗應使用軟水并在敞開的水箱里或水壓室中進行，浸設(shè)的深度極據(jù)試樣的部位決定，水溫應在10.C~25 t之間，暴露期間試樣的淚度不得低于水瓶，但也不可超過水溫10 K。
4條件試驗
4.1條件試驗方法8 0:內(nèi)高壓
條件試驗方法80內(nèi)高壓的嚴酷等級按表1。
 
4.2條件試驗方法8 1:內(nèi)低壓
條件試驗方法81的內(nèi)低壓的嚴酷條件按表2
 
 
 
6環(huán)境試驗標記
環(huán)境兇驗標記應符合GB/T 120 85.1的規(guī)定.
 
A.1抗壓試驗說明
為f達到滿意的功能，妥求光學儀器在改變環(huán)境淚度時，其內(nèi)表面始終不會出現(xiàn)水膜.否則，光學性能將會大大降低或加劇訥如腐蝕和發(fā)霉等影響.通常儀器使用前必須密封在r-燥空氣或者氯氣中，并應按規(guī)定的抗壓要求試驗.
根據(jù)儀器的周國~氣含盯或儀器內(nèi)表面，或進人儀器外52襯套的空氣含肚(換言之，按儀器的密封困類型和數(shù)量)，選擇合遠的儀器抗壓性能，并按標準規(guī)定應擇模擬環(huán)境工作的條件試驗方法.內(nèi)高壓試驗條件方法適合子因使用和運輸而暴露在一個段高壓力的嚴酷環(huán)境試驗.而暴露在低溫高壓或者外高壓的環(huán)境中的儀器必需進行內(nèi)低壓試驗.(內(nèi)低壓試驗也用于污染或不斷增加的內(nèi)部溫度下?！德銤摶蛟谒碌膬x器必須進行浸設(shè)試驗.
對于在內(nèi)高壓〈條件試斡方法80)或內(nèi)低壓〈條件i式驗方法81)的條件試驗時ìè汰的壓力/時間變化1111線的不連續(xù)擔IJ雖數(shù)據(jù)，允許對被測儀器的密封度有一個活當?shù)恼f明并合理確足所妥求的耐用度及時括性.壓電式壓阻的壓力傳感器與測母用放大器一起位~H1能提高測量精度.傳感器必需裝在試驗座內(nèi)
部，以免試樣外部空氣對測藍的影響.本裝置方便連峰記求器組件，例如，X T~è求器，可直接繪圖.
4條件試驗方法80和81的壓力試驗裝置如圖^.1.l劊八2顯示壓力試驗的試驗連接裝置.
 
 
閣中4和出的對應蛻紋公稱值按表A.1.