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可靠性增長試驗和失效分析試驗

可靠性增長試驗和失效分析試驗
可靠性增長試驗和失效分析試驗都是為了通過試驗找出產(chǎn)品的失效機理,但是兩種 可靠性試驗的目的和性質(zhì)確有很大區(qū)別??煽啃栽鲩L試驗是為了提髙產(chǎn)品可靠性而進行 的有計劃的可靠性試驗。其實施方法是:為暴露產(chǎn)品的可靠性薄弱環(huán)節(jié),對產(chǎn)品施加特定 的強應(yīng)力,使其失效,依據(jù)失效機理確定產(chǎn)品的可靠性薄弱環(huán)節(jié),實施改進措施,并證明改 進措施能加強找到的薄弱環(huán)節(jié);然后再對改進后的產(chǎn)品施加新的應(yīng)力,尋找新的薄弱環(huán) 節(jié);隨著試驗不斷的進行,產(chǎn)品的可靠性逐步增長。而失效分析試驗是在產(chǎn)品失效后進行 的尋找失效機理的試驗,尋找失效機理的目的是為了確定失效是由使用不當(dāng)造成的還是 由產(chǎn)品固有缺陷引起的。若是后者還要確定這種缺陷是偶然的還是批次性的,然后才能 依據(jù)結(jié)論采取改正措施。

[上一個:電子元器件可靠性試驗的分類及內(nèi)涵]

[下一個:老煉試驗和篩選試驗]

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