光學(xué)系統(tǒng)的PSF及MTF評價
一、 實(shí)驗?zāi)康?br />
1. 了解光學(xué)系統(tǒng)的PSF及MTF的基本物理概念。
2. 掌握利用干涉法測波差求PSF及MTF的基本方法。
3. 掌握光學(xué)系統(tǒng)的PSF及MTF的評價方法。
二、 實(shí)驗原理
光學(xué)系統(tǒng)相對于理想物點(diǎn)的成像點(diǎn)的質(zhì)量,可作為光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的評價指標(biāo)。實(shí)驗中為便于形成理想物點(diǎn),對一般光學(xué)系統(tǒng),通常選擇理想物點(diǎn)位于光軸上的無窮遠(yuǎn)處,即采用平行光入射被測光學(xué)系統(tǒng)的方法,這時所要考察的像方焦點(diǎn)的分布即為點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF。根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)的傅里葉變換特性,點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF可直接由波差計算得到

(1)
式中,

為點(diǎn)振幅分布函數(shù),C為常數(shù),

為光學(xué)系統(tǒng)的口徑,

為光學(xué)系統(tǒng)的焦距,

取單位圓中的規(guī)化坐標(biāo)。則點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)為

(2)
一般使PSF規(guī)一化,即

(3)
調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)反映了光學(xué)系統(tǒng)對不同分辨率的物點(diǎn)在其相應(yīng)的像點(diǎn)中對比度的下降情況??赏ㄟ^對點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行傅里葉反變換求得。

(4)
式中,

為光學(xué)傳遞函數(shù)。規(guī)一化后的調(diào)制傳遞函數(shù)為

(5)
調(diào)制傳遞函數(shù)也用自相關(guān)方法從波差求得

(6)
式中,

表示兩錯開光瞳的重疊區(qū),

表示出瞳孔徑范圍。
本實(shí)驗采用與實(shí)驗四相同的實(shí)驗方案,在獲得波差的條件下,進(jìn)一步由程序按上述方法自動計算PSF與MTF。
三、 實(shí)驗光路
同“位移的激光干涉”實(shí)驗(加PZT)
四、 實(shí)驗步驟
1. 調(diào)整擴(kuò)束系統(tǒng)的物鏡和透鏡,使激光平行入射到分光棱鏡14;并調(diào)整分光棱鏡14的位置,使參考光束嚴(yán)格偏轉(zhuǎn)90度。
2. 調(diào)整參考鏡的傾斜量,使參考光束進(jìn)入到CMOS的靶面內(nèi)。
3. 將被測光學(xué)系統(tǒng)(10倍物鏡)放入到測量臂中,調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)和標(biāo)準(zhǔn)平面鏡之間的位置,使10倍物鏡的焦點(diǎn)落在平面鏡表面。在實(shí)驗中可用一張開一個小孔的繪圖紙,將該繪圖紙放在光學(xué)系統(tǒng)的焦平面上,并使小孔與焦點(diǎn)重合。然后尋找焦點(diǎn)經(jīng)平面鏡反射后所形成的光點(diǎn),調(diào)整平面鏡的傾斜和軸向距離,使反射光點(diǎn)落入到小孔內(nèi)。
4. 微調(diào)平面鏡的傾斜量,使被測光束進(jìn)入CMOS的靶面內(nèi)并于參考光束重合,形成干涉條紋。
5. 運(yùn)行干涉圖的干涉處理軟件,進(jìn)入【實(shí)時采樣】對話框,按【采樣】按鈕可使計算機(jī)自動驅(qū)動壓電晶體(PZT)進(jìn)行條紋掃描和圖象采集工作,并完成波差計算。通過波面顯示(三維立體顯示、等高圖)觀察波面形狀及數(shù)據(jù)。
6. 在菜單中選擇【工件信息】,正確填入被測光學(xué)系統(tǒng)的口徑、焦距或相對口徑;然后從菜單項中選擇【點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF)】,程序自動求得點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF。
7. 從菜單項中選擇【調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)】,程序自動求得子午和弧氏方向上的傳遞函數(shù)分布圖。
五、 實(shí)驗表格
被測透鏡摘要:
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序號 |
R(mm) |
子午方向(X) |
弧矢方向(Y) |
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1 |
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2 |
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3 |
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4 |
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六、 思考題
1. 波差與PSF或MTF的關(guān)系,是什么?
2. 波差大小在PSF及MTF圖上應(yīng)如何顯示?
3. MTF上二條曲線各代表什么意義?
附:PSF和MTF實(shí)驗結(jié)果圖
