當分析的對象是電子元器件時,首先需要測量失效元件的電 參數(shù)。電參數(shù)的測定包括功能測試、非功能測試、變條件測試、 檢漏等。在做電參數(shù)測試時應(yīng)特別注意,一定要防止由于測試而 引入新的失效機制。從而給失效分析帶來困難,甚至無法進行。必須注意,失效晶體管本身已比較脆弱,極易損壞,因此在測試 時要比在正常測試時更加注意。進行電參數(shù)測定所需儀器和設(shè)備根據(jù)測試的需要而定。

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冷熱沖擊試驗機|冷熱沖擊測試箱又名高低溫沖擊試驗箱此設(shè)備分為高溫區(qū),低溫區(qū),測試區(qū)三部分,采用獨特之斷熱結(jié)及蓄熱,蓄冷效果,采用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測試。冷零件冷熱沖擊試驗機|冷熱沖擊測試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設(shè)備, 用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
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