當(dāng)分析的對(duì)象是電子元器件時(shí)，首先需要測(cè)量失效元件的電 參數(shù)。電參數(shù)的測(cè)定包括功能測(cè)試、非功能測(cè)試、變條件測(cè)試、 檢漏等。在做電參數(shù)測(cè)試時(shí)應(yīng)特別注意，一定要防止由于測(cè)試而 引入新的失效機(jī)制。從而給失效分析帶來(lái)困難，甚至無(wú)法進(jìn)行。必須注意，失效晶體管本身已比較脆弱，極易損壞，因此在測(cè)試 時(shí)要比在正常測(cè)試時(shí)更加注意。進(jìn)行電參數(shù)測(cè)定所需儀器和設(shè)備根據(jù)測(cè)試的需要而定。
 
    正航手機(jī)零件冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)|冷熱沖擊測(cè)試箱又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱此設(shè)備分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部分，采用獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)及蓄熱，蓄冷效果，采用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試。冷零件冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)|冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。http://m.zhdtlyjq.com