例行試驗(yàn)、質(zhì)量一致性檢驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)
例行試驗(yàn)是生產(chǎn)廠為了監(jiān)視所生產(chǎn)產(chǎn)品的質(zhì)童和可靠性而進(jìn)行的一種常規(guī)試驗(yàn)。其 試驗(yàn)內(nèi)容和周期原則上依據(jù)產(chǎn)品和工廠的具體情況而定。質(zhì)量一致性檢驗(yàn)是產(chǎn)品提交用 戶前必須進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)。它是提交用戶產(chǎn)品批質(zhì)量和可靠性是否符合相應(yīng)采購標(biāo)準(zhǔn) 或訂貨合同的驗(yàn)證試驗(yàn)。在一些標(biāo)準(zhǔn)中，如美國的mil標(biāo)準(zhǔn)和我國的國家軍用標(biāo)準(zhǔn) (GJB)將質(zhì)景一致性檢驗(yàn)的內(nèi)容分為若干組。這些組的組合構(gòu)成了不同要求的可靠性試 驗(yàn)，如微電路的質(zhì)量一致性檢驗(yàn)共分A、B、C、D、E 5個(gè)試驗(yàn)組。A組試驗(yàn)內(nèi)容為各種狀 態(tài)下(如靜態(tài)、動(dòng)態(tài)、開關(guān)態(tài)等)不同溫度條件下的電參數(shù)測試。B組試驗(yàn)內(nèi)容是與裝配封 裝和芯片有關(guān)的試驗(yàn)，如抗溶性試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)、鍵合強(qiáng)度試驗(yàn)、內(nèi)部水汽含量試驗(yàn)和穩(wěn) 態(tài)壽命試驗(yàn)等。A、B組為批質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的內(nèi)容。C組是與芯片有關(guān)的試驗(yàn)。D組是 與封裝有關(guān)的試驗(yàn)。C組和D組用于質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的周期試驗(yàn)。E組用于有抗輻射強(qiáng) 度規(guī)定的產(chǎn)品的質(zhì)董一致性檢驗(yàn)。
質(zhì)量一致性檢驗(yàn)屬于生產(chǎn)廠為提供用戶具有一定質(zhì)量和可靠性保證的產(chǎn)品的自主行 為?？煽啃则?yàn)收試驗(yàn)是用戶接收產(chǎn)品前所做的驗(yàn)證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性是否符合合同要 求的驗(yàn)證試驗(yàn)，它屬于用戶行為。一般情況下可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)的內(nèi)容與質(zhì)量一致性檢驗(yàn) 是一致的。